С модерни лаборатории, чиста стая, високочувствителна апаратура и уникални технологии, институтът създава иновации в областта на материалознанието, микросистемите и културното наследство.
Пригодена за различни перфузионно-базирани приложения като анализ на жизнения цикъл на клетките, кинетичен отговор на промени в състава/концентрацията на инкубационния разтвор, клетъчна фиксация и имуно-оцветяване, 3D деконволюция, клетъчна миграция, локализация на протеинови молекули, продължително наблюдение и запис през зададен интервал от време.
Системата CellASIC™ ONIX е създадена на базата на микрофлуидна технология и позволява визуализирането, записа и изследването в реално време на биологични клетки при постоянен контрол на потока на разтвор с даден състав. Дизайнът ѝ дава възможност изследваните клетки да бъдат инкубирани в различни разтвори и при различни условия посредством система от микрофлуидни канали с определена геометрия и налягане. Програмното обезпечаване на прибора позволява на оператора да задава времевите интервали и дебита на потоците в отделните микрофлуидни канали. Безспорно предимство на микрофлуидната система е възможността тя да бъде интегрирана с конвенционални инвертирани микроскопи. Микрофлуидната система CellASIC™ ONIX е пригодена за различни перфузионно-базирани приложения като анализ на жизнения цикъл на клетките, кинетичен отговор на промени в състава/концентрацията на инкубационния разтвор, клетъчна фиксация и имуно-оцветяване, 3D деконволюция, клетъчна миграция, локализация на протеинови молекули, продължително наблюдение и запис през зададен интервал от време.
Автоматичният спектрален елипсометър тип М2000D на Woollam Co., работещ в спектрален диапазон от 195-1000 nm и при ъгли на падащата светлина в диапазона от 45° до 90°, е мощен инструмент за оптично характеризиране на тънки диелектрични, полупроводникови, метални и органични слоеве и многослойни структури.
Автоматичният спектрален елипсометър тип М2000D на Woollam Co., работещ в спектрален диапазон от 195-1000 nm и при ъгли на падащата светлина в диапазона от 45° до 90°, е мощен инструмент за оптично характеризиране на тънки диелектрични, полупроводникови, метални и органични слоеве и многослойни структури.
Чрез него могат да бъдат изследвани оптични константи, състав, степен на кристализация, анизотропия, грапавост на повърхността и на интерфейсен слой, нехомогенности по дебелината и др., а автоматичнотo сканиране на образеца позволява да се регистрират и латерални нехомогенности. Продължителността на едно измерване е от 2 до 5 секунди. Допълнителните опции към елипсометъра позволяват изследване и на течни образци и изучаване на оптични свойства в зависимост от температурата. Инсталираната USB камера е много полезна за наблюдение на повърхността на образеца и за избора на желаното място за измерване.
